전계형 주사전자현미경 (FE-SEM):JSM-7401F ![close close](/data/crossEditor/images/000008/20120409155613973_4NQX65VW.gif)
전압에서 방출되는 전자빔이 코팅 된 시료 표면 위를 주사(Scanning)함으로써 요철부위에서 발생된 이차전자를 검출
하여 이를 증폭함으로써 심도 있는 상(image)을 관찰 할 수 있는 현미경입니다. 즉,표본의 미세구조를 분해능이 높은
입체구조(3-D)를 분석 할 수 있는 장비입니다.
![전계형 주사전자현미경 (FE-SEM):JSM-7401F 전계형 주사전자현미경 (FE-SEM):JSM-7401F](/data/crossEditor/images/000010/20120412134149249_DP1PSMP8.jpg)
- Resolution
- Magnification
- Gentle beam
- High resolution at extremely low voltages
- Veleta camera 장착 (SIS)
- Simple selection of desired information
- SE mode, BE mode, Sb mode, Bs mode
- 5 axis computer motorized control system
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